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簡(jiǎn)要描述:DXR250 探測(cè)器提供很大的有效面積,便于代替膠片。 DXR250利用具有優(yōu)化噪聲和分辨率的碘化銫閃爍體對(duì)各種零件與材料都能得到優(yōu)質(zhì)圖像. GE檢測(cè)科技的探測(cè)器包括一個(gè)溫度控制器,允許較長(zhǎng)的校準(zhǔn)間隔并可快速得到一致的圖像。
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DXR250 探測(cè)器提供很大的有效面積,便于代替膠片。 DXR250利用具有優(yōu)化噪聲和分辨率的碘化銫閃爍體對(duì)各種零件與材料都能得到優(yōu)質(zhì)圖像. GE檢測(cè)科技的探測(cè)器包括一個(gè)溫度控制器,允許較長(zhǎng)的校準(zhǔn)間隔并可快速得到一致的圖像。
DXR250 探測(cè)器
特色:
主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
| 探測(cè)器表征圖 按照ASTM E2507-07“數(shù)字探測(cè)器陣列制造特性的標(biāo)準(zhǔn)”。繪制的探測(cè)器特征圖。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采集和報(bào)告數(shù)據(jù)的方法,從而確保DDA的直接比較結(jié)果的客觀性。該標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)還為不同用途的探測(cè)器正確選擇提供了指導(dǎo)。 根據(jù)ASTM E2597 – 07文件給出的七個(gè)定義中的一個(gè)或多個(gè)可以確定不良像素。通過(guò)GE的軟件從鄰近好像素采集數(shù)據(jù)可以校正不良像素。 |
應(yīng)用:
代替膠片
管制造
大鑄件
檢測(cè)系統(tǒng)
規(guī)格:
檢測(cè)器
平板型號(hào) | 非晶硅 |
---|---|
閃爍體材料 | 碘化銫 |
有效面積(近似值) | 410 x 410 毫米 (16 x 16 英寸) |
圖像格式 | 2048 x 2048 |
像素間距 | 200µm |
A/D 轉(zhuǎn)換 | 14位 |
大幀速率 | 7.5 fps 或 3.0 fps |
接口 | 光纖或千兆以太網(wǎng) |
動(dòng)態(tài)范圍 | 10,000:1 |
尺寸 | 562 x 454 x 52.5毫米 |
重量 | 22 kg (49磅) |
工作溫度 | 10° 到 35° C (50° 到 95° F) |
工作濕度 | 10-90% 非冷凝 |
電源
電壓: | 100-240伏, 50-60赫茲 |
---|---|
尺寸 | 163 x 287 x 56 毫米 (6 x 11 x 2 英寸) |
重量 | 3 kg (7磅) |
溫度控制器
電壓: | 100-240伏, 50-60赫茲 |
---|---|
尺寸 | 220 x 286 x 382 mm (9 x 11 x 15英寸) |
重量 | 8 kg (19磅)
|
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